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芯片外观检测(AOI)设备

可检测产品六个面
高性能:UPH可达6000-20000
高精度:0.015毫米/像素
全面性:可检测表面缺陷;塑封损伤、刮痕、凹陷、尺寸误差;针脚长度、毛刺、间距等
柔性化:兼容2*2mm到10*10mm尺寸的产品
 

芯片外观检测(AOI)设备专注于IC芯片外观光学检测,检测区域全面覆盖产品的所有表面,检测项包括产品印字面的表面缺陷检测,同时可利用3D-5S检测对产品除印字面的所有封装表面与针脚进行检测。

 

杰出的高产能

◆ 高产能源自我们成熟的算法架构,快速的AOI检测速度与良好的识别率;

◆ 每小时产量可达6,000-20,000。

 

精确的光学检测

◆ 我们拥有专门的光学实验室,在光学检测上存在深厚的项目积淀;

◆ 拥有经过长期验证的可靠测试软件与成熟的算法架构;

◆ 光学检测精度可达0.015毫米/像素。

 

柔性的模块化设计

◆ 遵循运泰利一贯的模块化设计原则,机械臂真空吸嘴数目可灵活调节;

◆ 设备可兼容2*2毫米到10*10毫米尺寸产品。

 

优异的设备稳定性

◆ 平均故障间隔时间:168小时。